솔루션소개

Semiconductor

Semiconductor

공정 이슈
초점 위치, 에너지 균일도, 열 영향 영역을 안정적으로 관리해야 하는 공정
신호텍 대응
Beam shaping, scanner path, power measurement, profile inspection을 함께 검토합니다.
Display & Glass

Display & Glass

공정 이슈
초박막 유리와 디스플레이 소재의 미세 크랙, 열 변형, 전사 균일도 관리
신호텍 대응
가공 조건에 맞는 빔 형상, 광학계 구성, 테스트 측정 항목을 정의합니다.
Automotive / LiDAR

Automotive / LiDAR

공정 이슈
광원 패턴, 시야각, 모듈 정렬, 장거리 안정성을 동시에 맞춰야 하는 응용
신호텍 대응
광학 설계와 빔 분석을 연결해 센서/모듈 조건에 맞는 구성을 제안합니다.
반도체

반도체

반도체 제조 공정에서는 레이저 빔 품질, 광학 정렬, 공정 반복성이 수율과 직결됩니다. 신호텍은 레이저, 스캐너, 계측 장비와 광학 부품을 조합해 정밀 공정에 맞는 솔루션을 제공합니다.

테스트 상담
광학 솔루션

광학 솔루션

레이저 공정의 파장, 출력, 빔 형상, 작업 거리와 장비 구조를 함께 검토해 공정 목적에 맞는 광학 솔루션을 제안합니다. 제품 선정부터 적용 검토, 시험 구성까지 연결합니다.

  • 공정 조건 분석
  • 제품 선정
  • 시험 구성
  • 기술 검토
테스트 상담
광학 설계

광학 설계

렌즈, 미러, 빔 쉐이핑, 빔 딜리버리 구성을 공정 요구사항에 맞춰 검토합니다. 성능, 안정성, 유지보수를 고려한 실무형 광학계를 설계합니다.

  • 렌즈/미러 구성
  • 빔 쉐이핑
  • 광학 경로 설계
  • 성능 검토
테스트 상담
디스플레이

디스플레이

OLED, Micro LED, UTG, LLO 등 디스플레이 공정에는 정밀한 레이저 제어와 안정적인 광학 구성이 필요합니다. 공정 목적에 맞는 제품 선정과 기술 검토를 지원합니다.

테스트 상담
이차전지

이차전지

이차전지 제조 공정의 레이저 가공과 검사에는 안정적인 출력, 반복 정밀도, 공정 안전성이 중요합니다. 신호텍은 레이저 및 광학 시스템 구성에 필요한 제품군을 제공합니다.

테스트 상담
기구 설계

기구 설계

스캐너, 렌즈, 광학 헤드, 계측 장비가 안정적으로 장착될 수 있도록 모듈 구조와 인터페이스를 구성합니다. 장비 내 공간과 유지보수 동선을 함께 고려합니다.

  • 모듈 구조
  • 장착 인터페이스
  • 유지보수 동선
  • 장비 공간 검토
테스트 상담
의료·바이오

의료·바이오

의료 및 바이오 광학 시스템에는 정밀한 광원 제어와 신뢰 가능한 광학 부품 구성이 필요합니다. 관련 제품 정보와 적용 가능성을 관리자에서 지속적으로 확장할 수 있습니다.

테스트 상담
SW 설계

SW 설계

장비 제어, 측정 데이터, 운영 화면이 하나의 흐름으로 연결되도록 소프트웨어 연동을 지원합니다. 현장 운용자가 이해하기 쉬운 제어와 데이터 관리 구조를 지향합니다.

  • 장비 제어
  • 데이터 연동
  • 운영 화면
  • 측정 흐름 관리
테스트 상담

LiDAR 센서를 위한 광학 모듈과 구성 부품

LiDAR 시스템은 자율주행, 로봇, 검사 자동화에서 거리와 공간 정보를 안정적으로 확보하기 위한 핵심 기술입니다. 신호텍은 송신부와 수신부에 필요한 광학 모듈, 빔 쉐이핑, 스캐너, 계측 장비를 적용 조건에 맞춰 검토합니다.

초기 기획 단계부터 제조사 기술 협의, 테스트 구성, 데모 검토까지 하나의 흐름으로 연결해 고객이 실제 적용 가능성을 빠르게 판단할 수 있도록 지원합니다.

LiDAR 광학솔루션

Benefits

  • 광학 시스템 통합 검토와 공정 적용성 평가
  • 자율주행 및 산업 검사 환경에 맞춘 모듈 구성
  • DOE, ROE, 스캐너, 계측 장비를 연계한 제품 선정
  • 제조사 기술 협의, 테스트, 데모 구성 지원

Applications

  • 자율주행 및 ADAS용 LiDAR 송수신 광학계
  • 산업용 거리 측정, 로봇, 물류 자동화
  • 검사 장비용 빔 쉐이핑 및 광학 모듈
  • 정밀 가공 라인의 레이저 스캐너 및 계측 구성